अल्ट्रासोनिक फ्लैट-प्लेट रे एंड सर्कुलर-एलिमेंट रीफरेंस
समानांतर फ्लैट प्लेट में आदर्श फर्स्ट-लेग आ फुल-स्किप रे ज्यामिति, यूजर के देहल कैलिब्रेटेड वेव वेलोसिटी खातिर वेवलेंथ, आ अलग सर्कुलर-एलिमेंट नियर-फील्ड रीफरेंस के गणना करीं।
नियंत्रित इनपुट
संदर्भ परिणाम
समीकरण आरू इकाई
पहला पैर: s₁ = t / cos β; x₁ = t tan β
दू लेग / एक पूरा स्किप: s₂ = 2t / cos β; x₂ = 2t tan β
तरंगदैर्ध्य: λ = c / f
वृत्ताकार-तत्व सटीक निकट क्षेत्र: N₀ = (D² − λ²) / (4λ)
बड़ी-एपर्चर सन्निकटन: N₀ ≈ D² / (4λ) = D²f / (4c)
- β परीक्षण टुकड़ा में सतह के अभिलंब से मापल अपवर्तित कोण ह। सूत्र वेज आपतन कोण से अपवर्तन के गणना ना करेला।
- t, s, x, D, λ आ N₀ मिलीमीटर में बाड़ें। c के m/s में आ f के MHz में डालल जाला; λ(mm) = c / [1000 f(MHz)]।
- देखावल पारगमन समय में खाली टेस्ट पीस में प्रसार शामिल बा: time(µs) = 1000 × path(mm) / c(m/s)। वेज, डिले-लाइन, कपलेंट आ उपकरण शून्य समय शामिल नइखे।
- वृत्ताकार-तत्व सटीक समीकरण खाली D/λ > 1 खातिर मूल्यांकन कइल जाला। Olympus संदर्भ D/λ > 10 वाला सन्निकटन छापेला; वर्कशीट बतावेला कि ऊ शर्त पूरा भइल कि ना, बाकिर एकरा के प्रोब-चयन के फैसला ना मानेला।
- एगो एंगल-बीम वेज भा आयताकार प्रोब खातिर, प्रभावी निकट क्षेत्र आपतित/अपवर्तित कोण, तत्व लंबाई, वेज पथ, वेग आ एगो सुधार कारक पर भी निर्भर करेला। ई वर्कशीट जानबूझ के एह इनपुट के अनुमान नइखे लगावत।
मॉडल अपवर्जन
| बहिष्कृत आइटम | सरल परिणाम काहे अपर्याप्त बा | आवश्यक नियंत्रण |
|---|---|---|
| सामग्री वेग तालिका | वेग तरंग मोड, संघटन, संरचना आ स्थिति पर निर्भर करेला; एगो सामान्य मान दूरी के कैलिब्रेट ना करेला। | असल सेटअप आ कवनो लागू संदर्भ ब्लॉक भा ज्ञात पथ से वेग/शून्य के पुष्टि करीं। |
| वेज आ इंडेक्स-बिंदु ज्यामिति | वेज में पारगमन, आपतन कोण, बीम इंडेक्स बिंदु आ तापमान असल असेंबली पथ आ कोण पर असर डालेला। | प्रोब/वेज असेंबली के कैलिब्रेट करीं आ अपवर्तित कोण के पुष्टि करीं। |
| वक्र परीक्षण टुकड़ा | सपाट-प्लेट त्रिकोणमिति गलत हो जाला आ परावर्तन कोण बदल जाला। | असल भीतरी/बाहरी ज्यामिति खातिर मान्य वक्र-सतह सुधार के इस्तेमाल करीं। |
| बीम चौड़ाई, फोकसिंग और कवरेज | एगो सेंटरलाइन किरण ध्वनि क्षेत्र भा स्कैन कवरेज के वर्णन नइखे करत। | प्रोब मॉडल, प्रक्रिया आ कवरेज सत्यापन के इस्तेमाल करीं। |
| पता लगाना, अभिलक्षण और आकार निर्धारण | परावर्तक अभिविन्यास, प्रतिक्रिया, क्षीणन, प्रकीर्णन, युग्मन, बैंडविड्थ, संवेदनशीलता आ सिग्नल-टू-नॉइस के गणना नइखे कइल जात। | कैलिब्रेटेड संदर्भ परावर्तक आ लागू डिटेक्शन/साइजिंग तकनीक के इस्तेमाल करीं। |
| स्वीकृति | खाली ज्यामिति में कवनो परीक्षण स्तर, मूल्यांकन स्तर भा स्वीकृति मानदंड ना होला। | उत्पाद/कोड/अनुबंध प्रक्रिया आ एकर वर्तमान स्वीकृति नियम लागू करीं। |
प्रमाण और मानक स्थिति
व्याख्या करेला कि डिफ़ॉल्ट एंगल-बीम स्थिति गणना सपाट टेस्ट पीस मान के चलेला आ कैलिब्रेटेड वेग, अपवर्तित कोण, मोटाई आ बीम इंडेक्स बिंदु के इस्तेमाल करेला; वक्रता खातिर अलग संबंध के जरूरत होला।
आधिकारिक निर्माता कागजातN₀ = (D² − λ²)/(4λ) देला, D/λ > 10 खातिर D²f/(4v) सन्निकटन, आर वेज पर डिस्क या आयताकार प्रोब खातिर अलग प्रभावी-नियर-फील्ड समीकरण।
आधिकारिक निर्माता PDFकहै जे जब नया टेस्ट मटेरियल या ट्रांसड्यूसर इस्तेमाल होत तब वेलॉसिटी/जीरो कैलिब्रेशन जरूरी बा आर रेफरेंस कैलिब्रेशन टेस्ट प्रोसीजर खातिर विशिष्ट बा।
आधिकारिक निर्माता ट्यूटोरियलआधिकारिक ISO कार्ड कहै जे एप्लिकेशन-विशिष्ट शर्तें प्रोडक्ट मानक, स्पेसिफिकेशन, कोड, अनुबंध या लिखित प्रोसीजर खातिर बा, आर ISO 16810 स्कैन एक्सटेंट/प्लान या स्वीकृति मानदंड निर्दिष्ट नहि करेला।
आधिकारिक ISO रिकॉर्डआधिकारिक कार्ड अपना मुख्य दायरा को फ्यूजन-वेल्डेड धातु जॉइंट खातिर निर्दिष्ट मैनुअल UT तक सीमित करेला आर मटेरियल/तापमान/टेस्टिंग-लेवल शर्तें बताबेला। ई वर्कशीट कहै नहि जे ई ओह प्रोसीजर को लागू करेला।
आधिकारिक ISO रिकॉर्डस्रोत 16 जुलाई 2026 के एक्सेस कइल गइल। कवनो बंद मानक क्लॉज, टेस्टिंग लेवल भा स्वीकृति तालिका के पुन: प्रस्तुत भा निहित नइखे कइल गइल।
व्याख्या प्रश्न
का “प्रोब एंगल” ही डाले वाला मान ह?
टेस्ट पीस में सत्यापित अपवर्तित कोण डालीं, सतह के लंब से मापल। वेज इन्सिडेंट एंगल एकरा जगह पर ना लिहल जा सकेला; अपवर्तन वेग आ स्नेल के नियम पर निर्भर करेला।
का टू-लेग पाथ के मतलब एकल रिफ्लेक्टर तक के दूरी ह?
नहि। ई एंट्री सतह से विपरीत समानांतर दीवार तक आर एक स्पेकुलर परावर्तन खातिर एंट्री सतह पर वापस आइडियल सेंटरलाइन पाथ बा। रिफ्लेक्टर कोनो लेग पर कोनो जगह हो सकेला आर कैलिब्रेटेड साउंड पाथ आर लेग जानकारी से ओकर स्थान पता करबाक जरूरत बा।
का गणना कइल N₀ हमार एंगल-बीम प्रोब खातिर मान्य बा?
प्रभावी असेंबली नियर फील्ड रूप में नहि। प्रदर्शित N₀ एक अलग सीधे सर्कुलर-एलिमेंट रेफरेंस बा। वेज/एंगल प्रोब खातिर अतिरिक्त ज्यामिति आर सुधार डेटा जरूरत बा जे ईहाँ स्पष्ट रूप सें छोड़ल गइल बा।
क्या λ/2 न्यूनतम दोष बा जे डिटेक्ट होत?
ई वर्कशीट अइसन कवनो दावा ना करेला। डिटेक्शन आ साइजिंग पूरा साउंड फील्ड, रिफ्लेक्टर प्रकार आ अभिमुखता, क्षीणन/प्रकीर्णन, कपलिंग, बैंडविड्थ, संवेदनशीलता, सिग्नल-टू-नॉइज, कैलिब्रेशन आ लागू प्रक्रिया पर निर्भर करेला।
संशोधन: 16 जुलाई 2026। परिणाम वर्गीकरण: खाली गैर-मानक ज्यामिति/ध्वनि विज्ञान संदर्भ।
एह पन्ना पर बताइल गइल प्रक्रिया सभ के Vibromera टीम द्वारा Balanset-1A—एगो पोर्टेबल ड्युअल-चैनल बैलेंसर आ वाइब्रेशन एनालाइजर—के इस्तेमाल से, साइट पर रोटर बैलेंसिंग खातिर विकसित कइल गइल आ फील्ड में टेस्ट कइल गइल।
Nikolai Shelkovenko
Nikolai Shelkovenko कंपन विश्लेषण के इंजीनियर हईं आ Vibromera के संस्थापक आ मुख्य कार्यकारी अधिकारी हईं। 15 साल से भी ढेर समय से ऊ घूमे वाला उपकरण के टेस्ट बेंच पर ना, बलुक मौका पर ही संतुलित करत आ रहल बानी: मल्चर, औद्योगिक पंखा, क्रशर, सेंट्रीफ्यूज, शाफ्ट आ स्पिंडल। एही काम से Balanset उपकरण निकलल — इनका के अइसन औजार के रूप में बनावल गइल जेके विशेषज्ञ मशीन तक ले जाके मौका पर अकेले इस्तेमाल कर सके, ना कि प्रयोगशाला के उपकरण के रूप में। Vibromera के स्थापना 2017 में भइल आ 2023 से ई पुर्तगाल के पोर्तो शहर में बा। Balanset श्रृंखला के विकास, असेंबली आ सहायता सब इहँवें होला। प्रमुख उपकरण Balanset-1A ह — एक आ दू तल में संतुलन आ कंपन डायग्नोस्टिक्स खातिर एगो पोर्टेबल एनालाइज़र। Nikolai खुद ग्राहक सहायता में, कठिन संतुलन के मामिला सुलझावे में आ सॉफ्टवेयर के विकास में शामिल रहेलन। ऊ दुनिया भर के ग्राहकन के साथ, कवनो भाषा में काम करेलन।
