Kontrollierte numerische Filterung
Worksheet zur Berechnung von Profil-Ordnatistik-Statistiken
Berechnen Sie transparente diskrete Statistiken aus gleichmäßig verteilten Profil-Ordnaten. Dieses Worksheet tut absichtlich nicht keine Rz-, Rq-, Rt-, Wellenlängen-Schwellenwert- oder ISO 21920-Konformität aus einem einzigen Ra-Wert ab.
Keine Umrechnung von Ra zu RzKeine automatische Wellenlängen-Schwellenwert-TabelleKein ISO-Konformitätsanspruch
Entscheidungsgrenze Die vollständige Erfassung, die Eigenschaften des Stifts/Instruments, das Ausgleichen, die Filter, die Verschachtelungsindizes, die Abschnittslängen, die Endbehandlung, der Parameteroperator und die Unsicherheitsbewertung müssen durch eine kontrollierte externe Metrologiemethode durchgeführt werden. Die Ausgaben unten verwenden gesternkte Namen (A*, Q*, H*), da diese Seite den lizenzierten ISO 21920-2/-3-Operator nicht reproduziert.
4. Diskretes Filterergebnis
Ordnatenanzahl
Entferntes arithmetisches Mittel
A* mittlere absolute Abweichung
Q* quadratische Abweichung
Q* / A*
Zentriertes Minimum
Zentriertes Maximum
H* Maximum−Minimum
Methode und Anwendbarkeit
m = (1/N) Σ xᵢ
zᵢ = xᵢ − m
A* = (1/N) Σ |zᵢ|
Q* = √[(1/N) Σ zᵢ²]
H* = max(zᵢ) − min(zᵢ)
zᵢ = xᵢ − m
A* = (1/N) Σ |zᵢ|
Q* = √[(1/N) Σ zᵢ²]
H* = max(zᵢ) − min(zᵢ)
Was berechnet wird
- Arithmetische Mittelwert-Entfernung.
- Gleichgewichtete diskrete A*, Q* und Spannweite H*.
- Exakte nm/µm/mm-Normalisierung.
Was nicht berechnet wird
- Rz oder Rt unter einem lizenzierten Operator.
- Filter, Cutoff-/Nesting-Indizes oder Abschnittsregeln.
- Messunsicherheit oder Konformität
Eingabeanforderungen
- Ein geordnetes, gleichmäßig verteiltes Datensatz.
- Eine gemeinsame Ordnungseinheit.
- Kontrollierte externe Erfassung und Vorverarbeitung.
Warum ein einzelner Ra-Wert nicht ausreicht. Die zentrierten Profile [−1, +1] und [−2, 0, 0, +2] haben beide eine mittlere absoluten Abweichung von 1. Ihre RMS-Abweichungen sind 1 und √2, während ihre Spannen 2 und 4 betragen. Daher können Rq-ähnliche und extremale Höhenwerte nicht eindeutig aus Ra allein rekonstruiert werden.
Quellen und Standardsgrenze
- ISO 21920-2:2021, Ausgabe 1, korrigierte englische Version 2022-06: Veröffentlichte Begriffe, Definitionen und Parameter für die Profilmethode zur Oberflächenbeschaffenheit. Stand 15.07.2026 ist es in der Phase 90.92 (zu überarbeiten); ein Komiteeentwurf wird entwickelt und ist nicht die veröffentlichte Ausgabe.
- ISO 21920-3:2021, Ausgabe 1: Veröffentlichte vollständige Spezifikation des Operators für die Profilmethode zur Oberflächenbeschaffenheit. Stand 15.07.2026 ist es ebenfalls in der Phase 90.92; ein Komiteeentwurf wird entwickelt.
- ISO 4287:1997 wurde am 20.12.2021 zurückgezogen und durch ISO 21920-2:2021 überarbeitet.
- ISO 3274:1996 wurde am 14.02.2025 zurückgezogen und durch ISO 25178-601:2025. Der frühere Anspruch, dass ISO 21920 selbst ISO 3274 ersetzt und zusammenfasst, war ungenau.
- NBS Technical Note 1151, Abschnitt 2.4.1, gedruckte Seiten 8–9: Gibt die diskreten Mittelwert-Abweichungs- und RMS-Ausdrücke bei gleicher Abstandung an und besagt, dass RMS mindestens die mittlere absolute Abweichung beträgt. Diese allgemeinen numerischen Beziehungen implementieren ISO 21920 nicht.
- Überblick über die PTB-Oberflächenmetrologie-Normen: Identifiziert ISO 21920-2 als den Teil mit den Begriffen/Parametern und ISO 21920-3 als den Teil mit der Spezifikation des Operators.
Einstufung: die Berechnungen auf dieser Seite sind eine allgemeine diskrete Prüfung, kein „ISO-Formelrechner“. Die genauen ISO 21920-2-Parameterdefinitionen und die ISO 21920-3-Standard-/Voll-Operator-Tabellen, Grenzen und Regeln sind NEEDS_LICENSED_SOURCE vor jeder konformen Implementierung erforderlich. Es wird keine geschlossene Cutoff- oder Evaluationslängentabelle reproduziert oder vermutet.
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