Yêu cầu đoạn đường cong đã được ghi chép
Nội suy Log-Log S–N
Nội suy số chu kỳ giữa hai điểm đã được ghi chép từ cùng một đường cong S–N biên độ không đổi. Công cụ này không tạo dữ liệu mỏi từ UTS, suy ra giới hạn bền mỏi, ngoại suy, hoặc phê duyệt thiết kế.
Điểm nội suy trên đoạn đường cong này
Đối với hai điểm dương (N₁,S₁) và (N₂,S₂) trên một đoạn thẳng trong tọa độ log-log, máy tính này sử dụng b=ln(S₂/S₁)/ln(N₂/N₁), a=S₁/N₁b, và N=(S/a)1/b. Tương đương, ln N được nội suy tuyến tính giữa ln N₁ và ln N₂. Số chu kỳ không thứ nguyên; a có đơn vị ứng suất đã chọn. Sử dụng MPa hoặc ksi nhất quán cho cùng N và b.
Máy tính chỉ chấp nhận N₁<N₂, S₁>S₂ và S₂≤S≤S₁. Các giá trị ngoài đoạn bị từ chối vì ngoại suy có thể vượt qua gối, vùng chạy ra, cơ chế hỏng hóc khác, hoặc chế độ yêu cầu mô hình khác. Bằng với điểm cuối nào đó trả về điểm cuối đó; không suy ra “tuổi thọ vô hạn”.
ISO 1099:2017, ấn bản 3 đã được Xuất bản nhưng ở giai đoạn 90.92 (sẽ được sửa đổi); ISO/FDIS 1099, ấn bản 4 đang được phát triển. Phạm vi của nó là thử nghiệm mỏi kiểm soát lực, biên độ không đổi, trục của mẫu kim loại ở nhiệt độ môi trường và nó thu được thông tin ứng suất-so-với-chu kỳ ở các tỷ số ứng suất được chỉ định. Nó không tạo đường cong chung dựa trên UTS hoặc biến nội suy này thành kết quả phù hợp ISO.
ISO 12107:2012, ấn bản 2 đã được Xuất bản và giải quyết việc lập kế hoạch thống kê và phân tích dữ liệu mỏi kim loại; một mục công việc ấn bản 3 đang được phát triển. Tiêu chuẩn được cấp phép là bắt buộc cho các quy trình chi tiết của nó. Trang này không thực hiện phân tích thống kê được chỉ định cũng không gán xác suất sống sót.
Tài liệu NASA mô tả đường cong Basquin là một đường thẳng ở dạng log-log được xác định bởi các hệ số phù hợp, và sổ tay độ tin cậy của NASA mô tả các hằng số của nó là thực nghiệm và phụ thuộc vào vật liệu và môi trường. Một nghiên cứu mỏi của NIST minh họa rằng các hệ số phù hợp có thể mang theo sự không chắc chắn đáng kể và rằng ứng suất trung bình thay đổi mối quan hệ tuổi thọ. Những nguồn đó hỗ trợ các hạn chế ở đây; chúng không cung cấp các hệ số phổ quát.
Không bao gồm: hiệu chỉnh ứng suất trung bình, đếm chu kỳ biên độ biến đổi hoặc hư hỏng Palmgren–Miner, tuổi thọ biến dạng chu kỳ thấp, mỏi đa trục, cơ học phát triển vết nứt/giòn, hiệu chỉnh kích thước/bề mặt/gờ/môi trường, xử lý chạy ra, giới hạn tin cậy, hệ số an toàn, khoảng thời gian kiểm tra, hoặc chấp nhận thiết kế. Sử dụng phân tích mỏi có đủ điều kiện và mã thiết kế áp dụng cho các quyết định quan trọng.
Nguồn: Bài báo S–N và mỏi phổ của NASA/NESC; Sổ tay độ tin cậy mỏi của NASA; Nghiên cứu hệ số mỏi của NIST; hồ sơ danh mục ISO được liên kết ở trên. Trạng thái đã kiểm tra ngày 12 tháng 7 năm 2026.
