वास्तविक अधिग्रहण और FFT सेटिंग्स आवश्यक

FFT बाइन स्पेसिंग और रिकॉर्ड रिज़ॉल्यूशन

प्रदर्शित FFT ग्रिड को अधिग्रहित समय रिकॉर्ड द्वारा प्रदान की गई जानकारी से अलग करें। जीरो-पैडिंग एक बारीक इंटरपोलेटेड ग्रिड बनाती है; यह अतिरिक्त आवृत्ति-रिज़ॉल्विंग जानकारी नहीं बनाती।

Δf_{ग्रिड}=f_s/N_FFTΔf_{रिकॉर्ड}=f_s/M=1/Tकोई बेयरिंग निदान नहीं

सैंपलिंग-रेट इकाई

सैंपलिंग रेट, f_s (सैंपल/सेकंड)

अर्जित सैंपल, M (पूर्णांक ≥2, पैडिंग से पहले)

FFT लंबाई, N_FFT (पूर्णांक ≥M)

M सैंपल पर लागू विंडो

एक्विजिशन/एनालाइजर कॉन्फ़िगरेशन स्रोत

परिभाषाएँ: M जानकारी वहन करने वाले मापे गए सैंपलों की संख्या है। N_FFT वैकल्पिक ज़ीरो-पैडिंग के बाद ट्रांसफ़ॉर्म लंबाई है और कम से कम M होनी चाहिए। एनालाइजर के मार्केटिंग “लाइन्स” मान को तब तक न दर्ज करें जब तक कि सैंपल रेट, अधिगृहीत सैंपल, FFT लंबाई, विंडो और प्रदर्शित बैंड के साथ इसका सटीक संबंध दस्तावेज़ित न हो।

FFT ग्रिड और रिकॉर्ड-सीमित मात्राएँ

प्रदर्शित बिन-ग्रिड अंतराल, Δf_{ग्रिड}

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रिकॉर्ड-सीमित अंतराल, Δf_{रिकॉर्ड}

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DFT रिकॉर्ड अवधि, T=M/f_s

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पहले-से-अंतिम टाइमस्टैम्प विस्तार

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न्यूक्विस्ट आवृत्ति

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एक-पक्षीय बिन (वास्तविक इनपुट)

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उच्चतम एक-पक्षीय बिन

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विंडो तुल्य शोर बैंडविड्थ

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लगभग नल-टू-नल मुख्य-लॉब चौड़ाई

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शून्य-पैडिंग अनुपात

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बिन स्पेसिंग दो टोन को अलग करने के समान नहीं है

सैंपल रेट f के लिए_s, M अधिगृहीत सैंपल और लंबाई N का FFT_FFT, प्रदर्शित ग्रिड स्पेसिंग है Δf_{ग्रिड}=f_s/N_FFT. अधिगृहीत DFT रिकॉर्ड अवधि है T=M/f_s, इसलिए इसका सूचना अंतराल है Δf_{रिकॉर्ड}=1/T=f_s/M. एक वास्तविक-इनपुट एक-पक्षीय FFT में floor(N_FFT/2)+1 बाइन शामिल हैं जिनमें DC भी शामिल है; न्यूक्विस्ट आवृत्ति f_s/2 स्वयं केवल सम N के लिए एक बाइन है_FFT.

यदि N_FFT>M, शून्य अनपैडेड DFT नमूनों के बीच ग्रिड नमूने जोड़ते हैं। NIST इसे आवृत्ति-डोमेन इंटरपोलेशन के रूप में वर्णित करता है: पैडेड ट्रांसफॉर्म में अनपैडेड ट्रांसफॉर्म के समान ही सूचना होती है। इसलिए पृष्ठ दोनों अंतरालों की रिपोर्ट करता है और पैडेड ग्रिड को भौतिक रिज़ॉल्यूशन में सुधार कभी नहीं कहता।

विंडो बैंडविड्थ

आयताकार विंडो का तुल्य शोर बैंडविड्थ एक रिकॉर्ड बाइन है। एकल आवर्त हान विंडो के लिए यह कैलकुलेटर ENBW=1.5Δf का उपयोग करता है_{रिकॉर्ड}, जैसा कि NIST द्वारा तालिकाबद्ध किया गया है। नाममात्र नल-टू-नल मुख्य-लॉब चौड़ाइयां 2Δf हैं_{रिकॉर्ड} आयताकार के लिए और 4Δf_{रिकॉर्ड} हान के लिए। ये बैंडविड्थ स्केल अपने आप यह तय नहीं करते कि दो वास्तविक घटक विभेद्य हैं या नहीं: आयाम अनुपात, कला, शोर, लीकेज, औसत और चुना गया अनुमानक भी महत्वपूर्ण हैं।

एक प्रकाशित NIST मापन उदाहरण ने 0 से 400Hz तक 801 लाइनों का उपयोग किया, 0.5Hz अंतराल के साथ, 2.0s रिकॉर्ड और 0.75Hz की हान प्रभावी बैंडविड्थ के साथ। इनपुट f_s=800Hz, M=N_FFT=1600, हान यहाँ उन राशियों को पुन: उत्पन्न करते हैं।

ISO संदर्भ

ISO13373-2:2016, संस्करण 2 प्रकाशित है और चरण 90.20 (व्यवस्थित समीक्षा) पर है। इसका सार्वजनिक दायरा मशीनरी कंपन डेटा के प्रसंस्करण, प्रस्तुति और समय/आवृत्ति-डोमेन विश्लेषण को कवर करता है। यह सामान्य कैलकुलेटर लाइसेंस प्राप्त मानक का कार्यान्वयन या अनुपालन जांच नहीं है, और कोई धारा/तालिका संख्या दावी नहीं की गई है।

गणना नहीं की गई: एंटि-एलियस फ़िल्टर पासबैंड या स्टॉपबैंड, एनालाइजर-विशिष्ट Fmax/“लाइन्स” कन्वेंशन्स, ओवरलैप, एवरेजिंज, एम्पलीट्यूड/कोहेरेंट-गेन करेक्शन, PSD स्केलिंज, कॉन्फिडेंस इंटरवल, ऑर्डर ट्रैकिंज, ज़ूम FFT, डीमॉड्यूलेशन, साइडबैंड या बेयरिंज-फॉल्ट डायग्नोसिस। 2.56 जैसा कोई यूनिवर्सल सैंपलिंज फैक्टर और जनरिक BPFO/BPFI/BSF/FTF मल्टीप्लायर्स इंटेंशनली नॉट इनफ़र्ड हैं।

स्रोत:NIST सेक्शन 10—DFT, रिकॉर्ड स्पेसिंज, विंडोइंज और हान्न्स ENBW;NIST FFT फॉर एक्सपेरिमेंटलिस्ट्स पार्ट I—ज़ीरो पैडिंज;NIST पब्लिश्ड 0.5Hz/हान्न्स एग्जैम्पल;NI बिन-स्पेसिंज/रिकॉर्ड-लेंथ ओवरव्यू; ISO कैटलॉग रिकॉर्ड लिंक्ड एबोव। रिव्यू: 12 जुलाई 2026।